全転換電子収量XAFS法によるSi基板上のAg微粒子の構造決定 [I]
課題番号: 2001A0221-NX-np
平成13年 2月23日 〜 25日
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測定室内の実験台です。 | 実験台上のアップ。中央にあるマニピュレーター に試料をセットします。 |
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マニピュレーターに今回実験用のエクステンショ ンをセットしているところ。 |
セットし終えた様子。さらに試料台が乗ります。 |
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試料の準備をしています。 | 今回の実験に用いる試料台です。 |
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この様に電流端子は試料台の下に付いてます。 | 測定中は制御用ワークステーションとにらめっこ。 |
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試料の入れ替えのため、測定スペースのドア を開けます。 |
真面目な顔で試料のセッティング。 |
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セットし終えた試料。上面が黒く、側面が白い 円筒形のものが試料台。その中央にある小さい 四角が今回の試料です。 |
測定準備完了! |
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一回の測定が2.5時間から1時間くらい。それを、 2〜3度繰り返します。暇なので「ハイ、ポーズ。」 |
建物全体は円形です。奥が右にカーブしています。 |
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反対を向けば、逆に左カーブしているのが判ります。 | 円の中心側、この写真では左側が放射光リングです。 |
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奥側の壁のようなものが測定する部分。 所謂、ビームラインです。 |
SPring-8は広々としています。それに綺麗! |
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測定する部分を「ハッチ」と言います。 | セットアップされた試料を写真に納めている所を 写真に納めました。 |
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こちらは赤外分光用のビームラインです。 今回は使いませんでしたが。 |
最後にもう一度記念写真。 今回はこの四人で実験しに行きました。 |