全転換電子収量XAFS法によるSi基板上のAg微粒子の構造決定 [I]

課題番号 2001A0221-NX-np


平成13年 2月23日 〜 25日

測定室内の実験台です。 実験台上のアップ。中央にあるマニピュレーター
に試料をセットします。
マニピュレーターに今回実験用のエクステンショ
ンをセットしているところ。
セットし終えた様子。さらに試料台が乗ります。
試料の準備をしています。 今回の実験に用いる試料台です。
この様に電流端子は試料台の下に付いてます。 測定中は制御用ワークステーションとにらめっこ。
試料の入れ替えのため、測定スペースのドア
を開けます。
真面目な顔で試料のセッティング。
セットし終えた試料。上面が黒く、側面が白い
円筒形のものが試料台。その中央にある小さい
四角が今回の試料です。
測定準備完了!
一回の測定が2.5時間から1時間くらい。それを、
2〜3度繰り返します。暇なので「ハイ、ポーズ。」
建物全体は円形です。奥が右にカーブしています。
反対を向けば、逆に左カーブしているのが判ります。 円の中心側、この写真では左側が放射光リングです。
奥側の壁のようなものが測定する部分。
所謂、ビームラインです。
SPring-8は広々としています。それに綺麗!
測定する部分を「ハッチ」と言います。 セットアップされた試料を写真に納めている所を
写真に納めました。
こちらは赤外分光用のビームラインです。
今回は使いませんでしたが。
最後にもう一度記念写真。
今回はこの四人で実験しに行きました。