超高真空中でSi基板上に真空加熱蒸着され、 post-annealされた4 - 10 nmの Ag薄膜上のポリマーの赤外吸収スペクトルを透過法により測定した。 ポリマーの吸収強度がpost-anneal温度とAg 膜厚に依存していることが示された。その結果、Ag薄膜の膜厚を一定に保ち Ag粒子サイズと粒子形態のみを変化させたときでさえ、 反射率と赤外吸収強度の逆相関のような関係が存在していないことが明らかにされた 赤外吸収強度を増大させるためには、粒子はdiscreteに存在しなければならないが、 粒子間距離が大きくなると、吸収強度は減少する。さらに、波長領域によって最適の薄膜形態が異なっていることが確かめられた。